特許
J-GLOBAL ID：200903002272001098

X線異物検出方法及びX線異物検出装置

発明者：
関 隆行

関 隆行 について

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八木 将博

八木 将博 について

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河原 宏樹

河原 宏樹 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-184754
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028768
出願日： 2002年06月25日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：
【課題】パッケージ内の複数種類の被検査物について個別かつ高感度で異物検出を実現する。【解決手段】複数の収納領域A〜Dに区画されているパッケージP及び各収納領域A〜Dにそれぞれ収納されている複数種類の被検査物Wa〜WdにX線を曝射する射工程と、パッケージP及び各被検査物Wa〜Wdを透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データを出力する工程と、パッケージP及び各被検査物Wa〜WdのX線画像Ip,Iwa〜Iwdを生成する工程と、X線画像IA〜ID,Iwa〜Iwd毎に領域指定をする工程と、領域指定された各X線画像IA〜ID(Iwa〜Iwd)毎に異物検出閾値Tを設定する工程と、各収納領域毎のX線画像と、各収納領域毎の異物検出閾値と、に基づいて異物判定を実行する工程と、備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の収納領域(A〜D)に区画されているパッケージ(P)及び前記各収納領域にそれぞれ収納されている複数種類の被検査物(W)にX線を曝射するX線曝射工程と、 前記X線の曝射に伴って前記パッケージ及び各被検査物を透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データ(S)を出力するX線強度データ出力工程と、 前記パッケージ及び各被検査物のX線強度データを画像処理して前記パッケージ及び各被検査物のX線画像(Ip,Iw)を生成するX線画像生成工程と、 前記各収納領域又は各被検査物のX線画像を囲んで、前記各収納領域又は各被検査物のX線画像毎に領域指定をする領域指定工程と、 前記領域指定された各X線画像毎に異物検出閾値(T)を設定する異物検出閾値設定工程と、 前記各収納領域毎のX線画像と、前記各収納領域毎の前記異物検出閾値と、に基づいて異物判定を実行する異物判定工程と、 を備えることを特徴とするX線異物検出方法。
IPC (2件)：
G01V5/00 ,  G01N23/04
FI (2件)：
G01V5/00 A ,  G01N23/04
Fターム (9件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA07 ,  2G001FA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11
引用特許：
審査官引用 (3件)

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