3次元座標計測方法及び3次元座標計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-032602
公開番号（公開出願番号）：特開2001-296124
出願日： 2001年02月08日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：

【要約】【課題】人的作業を殆ど必要とせずに大型構造物に対してもその3次元座標を短時間で、且つ高精度に自動計測できる3次元座標計測方法を提供する。【解決手段】測定対象物体7の表面上に設けられた複数個のターゲット点8aまでの直線距離を測定する光波距離計1aと、その光軸の傾け角度を測定する測角計1bとを用い、距離計1aの光軸をターゲット8の中心に合わせ込んだ際の測定距離と測定角度からターゲット点8aの3次元座標を計測する3次元座標計測方法において、各ターゲット8を2台のマクロ自動視準用TVカメラ5a,5bにより2方向から観察し、得られた画像を処理して各ターゲット点8aに対する概略の3次元座標を認識し、次いで認識されたターゲット点8aの1点がミクロ視準範囲内に入るように距離計1aの光軸を概略合わせ込んだ後、距離計1aの光軸が1つのターゲット8の中心に一致するように合わせ込む。

請求項（抜粋）：

測定対象物体の表面上のターゲット点までの直線距離を測定する光波距離計と該光波距離計の光軸の傾け角度を測定する測角計とを用い、前記光波距離計の光軸を測定対象物体表面上のターゲット点に合わせ込んだ後の測定距離と測定角度から前記ターゲット点の3次元座標を計測する3次元座標計測方法であって、前記測定対象物体表面全体の複数のターゲットを撮像手段で観察し、得られた画像を処理して前記測定対象物体表面上の複数のターゲット点に対する概略の3次元座標を認識する座標認識ステップと、前記座標認識ステップにより認識されたターゲット点の1つが前記視準範囲内に入るように前記光波距離計の光軸を概略合わせ込むマクロ視準ステップと、前記マクロ視準ステップにより概略合わせ込まれた前記光波距離計の光軸が前記ターゲット点の1つに一致するように合わせ込むミクロ視準ステップと、を有することを特徴とする3次元座標計測方法。

IPC (5件)：

G01C 15/00 103 , G01C 15/00 101 , G01B 11/00 , G01B 11/24 , G01C 3/06

FI (6件)：

G01C 15/00 103 E , G01C 15/00 101 , G01B 11/00 H , G01B 11/00 A , G01C 3/06 V , G01B 11/24 K

引用特許：

審査官引用 (1件)

測量システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-060664 出願人：株式会社トプコン

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