特許

J-GLOBAL ID：200903077951260566

測量システム

発明者： 片山 康隆 ,  木村 和昭 ,  笹川 潤 ,  越川 和重
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-060664
公開番号（公開出願番号）：特開平9-250927
出願日： 1996年03月18日
公開日（公表日）： 1997年09月22日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 自動測量機がその望遠鏡部を目視により確認でき難い程目標点から遠くにある場合でも、自動測量機の望遠鏡部の視準軸を目標点に合致させることのできる測量システムの提供。【解決手段】 測量システムは、基準点Aに配設されて、水平方向と鉛直方向とに測量機本体を自動的に回転させる自動回転機構を有する測量機11と、目標点B側に設置されて前記測量機に向けて信号光を投光する信号光投光装置16と、測量機本体側に設置されて、信号光P3を受光して信号光投光装置16が存在する方向を粗く検出する粗方向検出装置20と、測量機本体側に設置されて、信号光P3を受光して信号光投光装置16が存在する方向を精密に検出する精密方向検出装置21と、測量機本体側に設置されて、粗方向検出装置の検出出力に基づき測量機11を制御する制御装置24とを備えている。

請求項（抜粋）：

基準点に配設されて、水平方向と鉛直方向とに測量機本体を自動的に回転させる自動回転機構を有する測量機と、目標点側に設置されて前記測量機に向けて信号光を投光する信号光投光装置と、測量機本体側に設置されて、前記信号光を受光して前記信号光投光装置が存在する方向を粗く検出する粗方向検出装置と、測量機本体側に設置されて、前記信号光を受光して前記信号光投光装置が存在する方向を精密に検出する精密方向検出装置と、前記測量機本体側に設置されて、前記粗方向検出装置の検出出力に基づき前記測量機を制御する制御装置とを備えた測量システム。

IPC (2件)：

G01C 15/00 ,  G01C 1/02

FI (2件)：

G01C 15/00 P ,  G01C 1/02 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 光通信機光学系のアライメント調整システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-006526   出願人：株式会社エイ・ティ・アール光電波通信研究所
• 太陽追尾センサの信号処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-313042   出願人：環境庁長官
• 特開昭63-281012
  
• 特開昭59-026082