特許

J-GLOBAL ID：200903046828364818

コイル巻取形状測定方法及びその測定装置並びにコイル巻取形状監視装置

発明者： 川上 雅章 ,  田辺 英也 ,  関根 宏 ,  佃 一二三 ,  山崎 孝博 ,  堤 泰洋 ,  高林 幸央 ,  藤原 弘次 ,  石本 晴一
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社 ,  川崎製鉄株式会社 ,  株式会社神戸製鋼所 ,  住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-166486
公開番号（公開出願番号）：特開平9-014933
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】 スポット光を一次元走査してコイル端面の巻取形状を測定するコイル巻取形状測定方法及びその測定装置並びにコイル巻取形状監視装置を提供することを目的とする。【構成】 レーザ光源1から発振されるスポット光を走査機器2でコイル端面Sに一次元走査して照射し、その反射光を一次元光電変換手段3によって撮像し、その一次元撮像画像をデジタル信号に変換して画像記憶回路6に格納し、その画像信号を画像処理してスポット光照射位置抽出回路7に入力してスポット光照射位置を抽出し、スポット光照射位置(反射位置)の座標(x,y)を座標点演算回路8で抽出してその座標群を座標点記憶回路9に記憶するとともに、演算制御回路12による制御によって演算位置検出回路11で走査位置を検出して走査機器制御回路10に基づいて走査機器2を駆動させ、スポット光の一次元走査によりコイル端面形状を測定する。

請求項（抜粋）：

スポット光照射手段によってスポット光をコイル端面に一次元走査し、且つ一次元光電変換手段によって前記スポット光の反射画像を撮像して、前記スポット光照射手段によるスポット光走査位置を検出し、前記一次元光電変換手段による線画像から前記スポット光の反射位置を検出し、前記スポット光走査位置と前記反射位置に基づいて前記コイル端面の二次元位置を算出して、前記コイル端面の形状を測定することを特徴とするコイル巻取形状測定方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭57-101808
  
• コイル位置検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-267778   出願人：三菱重工業株式会社