特許
J-GLOBAL ID：200903047063694527

走査光学装置とそれを備えた画像形成装置

発明者：
上田 健

上田 健 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 大澤 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-191066
公開番号（公開出願番号）：特開2003-005108
出願日： 2001年06月25日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】 走査領域の全域に亘って実像高と理想像高との差を小さくしてカラー画像の色ずれを防止すると共に色調の悪化も防止する。【解決手段】 各色に対応する走査線ごとに対応する光学特性測定手段を、走査領域内の書き込み開始側の光学特性測定手段15A1,15A3,15A2,15A4と、走査領域内の他端側の光学特性測定手段15B1,15B3,15B2,15B4と、走査領域の略中央に配置した光学特性測定手段15C1,15C3,15C2,15C4のそれぞれ3つで構成する。そして、各走査線ごとに上記の3つの光学特性測定手段の検知信号を基にして、4つの半導体レーザ10A,10B,10C,10Dからそれぞれ出射するレーザ光を、走査領域の全域に亘って実像高と理想像高との差が小さくなるように変調する。
請求項（抜粋）：
光源から出射された光束を回転部材により偏向する偏向器と、その偏向器により偏向された複数の光束をそれぞれ結像光学系を介して複数の走査線とする走査光学系と、その各走査線の光学特性を測定するために前記各走査線をそれぞれ検知する複数の光学特性測定手段とを備え、その複数の走査線により走査して形成した各画像を1枚の記録媒体に多重印刷可能にするタンデム方式の走査光学装置において、前記光学特性測定手段を、前記各走査線のそれぞれ走査領域内の一端部周辺の所定位置へ向かう光束を検知する第1の光学特性測定手段と、前記各走査線のそれぞれ走査領域内の他端部周辺の所定位置へ向かう光束を検知する第2の光学特性測定手段と、前記第1の光学特性測定手段と第2の光学特性測定手段との間に少なくとも1個設けた第3の光学特性測定手段とにより構成し、その3つの光学特性測定手段の検知信号を基にして前記光源から出射する光束を変調するようにしたことを特徴とする走査光学装置。
IPC (6件)：
G02B 26/10 ,  G02B 26/10 103 ,  B41J 2/44 ,  G03G 15/01 112 ,  H04N 1/04 ,  H04N 1/113
FI (7件)：
G02B 26/10 B ,  G02B 26/10 A ,  G02B 26/10 103 ,  G03G 15/01 112 A ,  B41J 3/00 D ,  H04N 1/04 104 A ,  H04N 1/04 D
Fターム (35件)：
2C362AA45 ,  2C362AA48 ,  2C362BA52 ,  2C362BA53 ,  2C362BA69 ,  2C362BA70 ,  2C362BA86 ,  2C362BA87 ,  2C362BA89 ,  2C362BA90 ,  2C362BB30 ,  2C362BB32 ,  2C362BB37 ,  2C362CA18 ,  2C362CA22 ,  2C362CA39 ,  2C362DA29 ,  2H030AA01 ,  2H030AB02 ,  2H030BB02 ,  2H030BB13 ,  2H045AA01 ,  2H045BA22 ,  2H045BA34 ,  2H045CA88 ,  2H045CA97 ,  5C072AA03 ,  5C072BA19 ,  5C072HA02 ,  5C072HA08 ,  5C072HA13 ,  5C072HB06 ,  5C072HB08 ,  5C072QA17 ,  5C072UA18
引用特許：
審査官引用 (4件)
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