特許

J-GLOBAL ID：200903047155430127

分光分析装置

発明者： 鈴木 良治 ,  樗木 安巳
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-133504
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005550
出願日： 1994年06月16日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 波長校正を短時間に環境状態に則しておこなうことができる分光分析装置を得る。【構成】 測定対象のサンプルが出退自在な測定部に測定用光線束を照射する光源と、測定部を透過してくる測定用光線束を分光する分光手段と、分光された測定用光線束を受光するアレイ型受光素子とを備え、測定用光線束の光路上で光源と分光手段との間に、測定用光線束を透過させて少なくとも一個の波長ピークを有する校正光線束とする校正フィルタを備えた波長校正部を設け、波長校正をおこないながら分光分析をおこなう分光分析装置に、校正光線束に存する波長ピークのアレイ型受光素子上における位置変化を経時的に検出するピーク位置検出手段を備え、経時的な位置変化が所定値以下となった場合に波長校正が完了したと判別する波長校正確認手段を備える。

請求項（抜粋）：

測定対象のサンプル(S)が出退自在な測定部(30)に測定用光線束を照射する光源(1)と、前記測定部(30)を透過もしくは前記測定部(30)より反射してくる測定用光線束を分光する分光手段(6)と、分光された前記測定用光線束を受光するアレイ型受光素子(7)とを備え、前記測定用光線束の光路上で前記光源(1)と前記分光手段(6)との間に、前記測定用光線束を透過させて少なくとも一個の波長ピークを有する校正光線束とする校正フィルタを備えた波長校正部(20a)を設け、波長校正をおこないながら分光分析をおこなう分光分析装置であって、前記校正光線束に存する前記波長ピーク(A)の前記アレイ型受光素子(7)上における位置変化を経時的に検出するピーク位置検出手段(71)を備え、経時的な前記位置変化が所定値以下となった場合に波長校正が完了したと判別する波長校正確認手段(72)を備えた分光分析装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 分光分析計の波長校正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-228128   出願人：株式会社クボタ
• 特開昭55-161346
  
• 近赤外分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-224996   出願人：株式会社島津製作所
• 特表平5-509413