特許
J-GLOBAL ID：200903047253443717
実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-278382
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118439
出願日： 1997年10月13日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：
【要約】【課題】 複数の外観検査装置によって検査された場合でもリペアに際して重複した手間を要しない実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 複数の外観検査装置2A、2B、2Cと管理コンピュータとしてのパソコン4をLANシステム3によって接続した実装基板の外観検査ラインにおいて、特定の外観検査装置2Aに、当該外観検査装置2Aによる検査結果とともに他の外観検査装置2B、2Cによる検査結果を最終検査結果として記憶させ、この最終検査結果を同一の実装基板についての単一の最終検査結果としてパソコン4のモニタ画面に表示させる。これににより、同一基板については単一の最終検査結果に基づいて、同一タイミングですべての必要なリペアを行うことができる。
請求項（抜粋）：
実装基板の外観検査を行う検査部と、この検査結果を記憶する記憶部と、前記検査結果の出力先を指定する出力先指定手段と、前記検査結果を外部へ出力する出力手段と、他の外観検査装置による検査結果を当該検査装置に入力する入力手段とを備え、前記出力先指定手段により指定された出力先が他の外観検査装置であるならば前記検査結果を出力手段により他の外観検査装置へ出力し、前記出力先指定手段により指定された出力先が当該検査装置であるならば入力手段により得た他の外観検査装置による検査結果と共に当該検査装置による検査結果を最終検査結果記憶部に記憶させることを特徴とする実装基板の外観検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 C
, G01N 21/88 F
