特許
J-GLOBAL ID:200903047457879506

濃度情報測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗 ,  長濱 範明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-054543
公開番号(公開出願番号):特開2004-261364
出願日: 2003年02月28日
公開日(公表日): 2004年09月24日
要約:
【課題】外乱光による影響をリアルタイムにかつ精度良く補正することができ、接触測定のみならず非接触測定においても精度の高い測定が可能な濃度情報測定装置を提供する。【解決手段】本体部2、プローブ3およびスペクトル校正ファントム4を備えてなり、プローブ3には光照射用光ファイバ10および光検出用光ファイバ20が組み込まれており、白色LED14から光照射用光ファイバ10を介して散乱吸収体に対して可視光が間欠的に入射される。また、光照射用光ファイバ10により受光された光に基づいてCCDリニアセンサ26等により光検出信号が生成される。そして、CPU32において、可視光が入射されている間の第1の光検出信号から可視光が入射されていない間の第2の光検出信号を差し引いて第1の光検出信号を補正し、補正された第1の光検出信号に基づいて被測定成分の濃度情報が演算される。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
散乱吸収体内での被測定成分の濃度情報を非侵襲的に測定する濃度情報測定装置において、 前記散乱吸収体に対して所定波長領域の光を入射する光入射手段と、 前記散乱吸収体内部を伝搬した光を受光する受光手段と、 前記受光手段に光学的に結合されており、前記受光手段において受光された光に基づいて光検出信号を生成する信号生成手段と、 前記信号生成手段からの前記光検出信号に基づいて前記被測定成分の濃度情報を演算する演算手段と、 を備え、 前記光入射手段が前記所定波長領域の光を間欠的に入射し、前記演算手段において、前記光が入射されている間の第1の光検出信号から前記光が入射されていない間の第2の光検出信号を差し引いて前記第1の光検出信号を補正し、補正された前記第1の光検出信号に基づいて前記被測定成分の濃度情報を演算することを特徴とする濃度情報測定装置。
IPC (2件):
A61B5/145 ,  G01N21/27
FI (2件):
A61B5/14 310 ,  G01N21/27 F
Fターム (21件):
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM14 ,  2G059PP04 ,  4C038KK01 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KX02 ,  4C038KX04
引用特許:
審査官引用 (8件)
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