特許

J-GLOBAL ID：200903047620196683

光ビーム走査方法及び光ビーム走査装置

発明者： 下田 亨志 ,  今井 修
出願人/特許権者： 住友精密工業株式会社
代理人 (2件)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-158339
公開番号（公開出願番号）：特開2005-338512
出願日： 2004年05月27日
公開日（公表日）： 2005年12月08日
要約：

【課題】 走査歪みが発生することなく、マイクロミラーの往復回動(光ビームの往復走査)時に連続して光ビームを利用できる光ビーム走査方法及び装置を提供する。 【解決手段】 1つのマイクロミラーに複数のレーザ光を入射させ、それぞれの反射レーザ光が感光体において、その照射位置(A,B)が副走査方向にずれるようにして、記録時の主走査方向の1ラインの走査中に、使用するレーザ光を時分割的に制御する(B1,A1,B2,A2)。隣り合う主走査ライン端間の距離(d1,d2)はほとんど同じとなって、副走査方向での位置ずれは起こらず、主走査1ラインにおける走査開始位置と走査終了位置との副走査方向のずれもほとんど生じない。よって、マイクロミラーの往復回動(レーザ光の往復走査)時に連続してレーザ光を利用できる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

マイクロミラーの回動により光ビームを被走査面で走査する光ビーム走査方法において、前記被走査面で走査位置が異なる複数の光ビームを用い、前記被走査面での一回の走査中に前記複数の光ビームを数回時分割して使用することを特徴とする光ビーム走査方法。

IPC (4件)：

G02B26/10 ,  B41J2/44 ,  H04N1/036 ,  H04N1/113

FI (5件)：

G02B26/10 B ,  G02B26/10 104Z ,  H04N1/036 Z ,  B41J3/00 D ,  H04N1/04 104Z

Fターム (31件)：

2C362BA17 ,  2C362BA42 ,  2C362BA49 ,  2C362BA57 ,  2H045AB62 ,  2H045BA03 ,  2H045BA22 ,  2H045BA36 ,  5C051AA02 ,  5C051CA07 ,  5C051DA02 ,  5C051DB02 ,  5C051DB22 ,  5C051DB24 ,  5C051DB30 ,  5C051DC04 ,  5C051DC07 ,  5C051DE29 ,  5C072AA03 ,  5C072BA05 ,  5C072BA17 ,  5C072DA02 ,  5C072DA04 ,  5C072HA02 ,  5C072HA06 ,  5C072HA14 ,  5C072HB01 ,  5C072HB13 ,  5C072WA01 ,  5C072WA05 ,  5C072XA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 微小揺動ミラー素子及びこれを用いたレーザ走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-122782   出願人：セイコーインスツルメンツ株式会社