特許
J-GLOBAL ID:200903047717480688

四重極質量分析計を電子的に駆動して、速い走査速度における信号性能を向上させるための装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 古谷 聡 ,  溝部 孝彦 ,  西山 清春
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-209708
公開番号(公開出願番号):特開2006-040890
出願日: 2005年07月20日
公開日(公表日): 2006年02月09日
要約:
【課題】走査速度が上昇するにつれて、四重極の検出能力を最大限にする装置と方法の提供【解決手段】質量分析計(100)の四重極(110)を電子的に制御するための装置(200)であって、その装置は、四重極(110)に結合された無線周波(RF)駆動回路要素および直流(DC)駆動回路要素と、前記RF駆動回路要素に関連したRF制御ループ(220)と、前記DC駆動回路要素に関連したDC制御ループ(230)と、及び前記DC制御ループ(230)に関連した制御ループ回路要素(1100)とを含み、前記制御ループ回路要素(1100)は、ステップ応答の整定時間(832)の期間中に前記DC制御ループ(230)の応答を変更して、前記整定時間(832)中に前記四重極(110)を通るイオンの透過率が、前記整定時間(832)中に前記DC制御ループ(230)の応答を変更しなかった場合に比べて大きくなるように構成される。【選択図】図11
請求項(抜粋):
四重極(110)に結合された無線周波(RF)駆動回路要素および直流(DC)駆動回路要素と、 前記RF駆動回路要素に関連したRF制御ループ(220)と、 前記DC駆動回路要素に関連したDC制御ループ(230)と、及び 前記DC制御ループ(230)に関連した制御ループ回路要素(1100)とを含み、 前記制御ループ回路要素(1100)は、ステップ応答の整定時間(832)の期間中に前記DC制御ループ(230)の応答を変更して、前記整定時間(832)中に前記四重極(110)を通るイオンの透過率が、前記整定時間(832)中に前記DC制御ループ(230)の応答を変更しなかった場合に比べて大きくなるように構成されている、質量分析計(100)の四重極(110)を電子的に制御するための装置(200)。
IPC (2件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (2件):
H01J49/42 ,  G01N27/62 L
Fターム (9件):
2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA18 ,  2G041GA03 ,  2G041GA13 ,  2G041HA01 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 特開平1-195647
  • 特開平2-094242
  • 四重極質量分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-199813   出願人:株式会社島津製作所
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審査官引用 (6件)
  • 特開平1-195647
  • 特開平2-094242
  • 四重極質量分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-199813   出願人:株式会社島津製作所
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