特許
J-GLOBAL ID：200903047746661675

検査装置及びPTPシートの製造装置

発明者：
田口 幸弘

田口 幸弘 について

, 
脇田 隆司

脇田 隆司 について


出願人/特許権者：
シーケーディ株式会社

シーケーディ株式会社 について


代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-081993
公開番号（公開出願番号）：特開2007-256132
出願日： 2006年03月24日
公開日（公表日）： 2007年10月04日
要約：
【課題】線状異物の付着部位等、検査対象の不良箇所を適切に判定して検査対象を検査可能な検査装置、及び、当該検査装置を具備するPTPシートの製造装置を提供する。【解決手段】異物の可能性が高い領域を相対的に高感度で特定するための閾値L1、及び、異物の可能性が高い領域を相対的に低感度で特定するための閾値L2のそれぞれで輝度データを二値化し、2つの二値化画像を生成する(S10)。次に、塊処理を行い、一方の二値化画像(L1画像)から、M個の連結領域L1(0)〜L1(M-1)を特定する。また、他方の二値化画像(L2画像)から、N個の連結領域L2(0)〜L2(N-1)を特定する(S20)。そして、連結領域L2(x)を包含する連結領域L1(y)を抽出し、連結領域L1(y)の周囲長に基づいて、連結領域L1(y)の異物判定を行う(S30)。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
検査対象を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段による撮像結果に基づく画像データを用い、前記検査対象の検査を行う検査装置において、 前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に高感度で特定するための第1閾値に基づき、前記判定領域としての第1領域を特定する第1領域特定手段と、 前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に低感度で特定するための第2閾値に基づき、前記判定領域としての第2領域を特定する第2領域特定手段と、 前記第1領域特定手段にて特定される前記第1領域の良/不良を、当該第1領域と前記第2領域特定手段にて特定される前記第2領域との包含関係に基づいて判定することにより、前記検査対象の検査を行う検査手段とを備えていることを特徴とする検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/85
FI (1件)：
G01N21/85 A
Fターム (14件)：
2G051AA02 ,  2G051AB01 ,  2G051AB03 ,  2G051AB07 ,  2G051AC01 ,  2G051BA01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051ED09 ,  2G051ED21
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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