特許
J-GLOBAL ID:200903048278269408
疵種判別ロジック自動設計方法および装置ならびに表面欠陥計
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中濱 泰光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-034436
公開番号(公開出願番号):特開2005-227054
出願日: 2004年02月12日
公開日(公表日): 2005年08月25日
要約:
【課題】多量の特徴量が得られた際にも簡便に疵種判別のための規則を発見することができる疵種判別ロジック自動設計方法および装置ならびに表面欠陥計を提供することにある。【解決手段】始め(S100)にて処理を開始して、疵種判定結果が付加された所定数の教師データの収集を行う(S101、S102)。そして、この教師データに基づいて遺伝的プログラミングによる疵種判別ロジックの最適化(S103)を行い、その結果である最適化された疵種判別ロジックを保存(S104)し、終わり(S105)にて処理を終了する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
画像データの欠陥候補から得られる多次元の特徴量パターンとその疵種判定結果を教師データとして収集する教師データ収集工程と、
その教師データを用いて、重みの付いた正誤に応じた得点の平均を評価関数とする最適化処理をすることにより、疵種判別ロジックを得る疵種判別ロジック最適化工程と、
最適化された疵種判別ロジックを保存する疵種判別ロジック保存工程を有することを特徴とする疵種判別ロジック自動設計方法。
IPC (3件):
G01N21/892
, B21C51/00
, G06T7/00
FI (3件):
G01N21/892 B
, B21C51/00 P
, G06T7/00 350D
Fターム (20件):
2G051AA37
, 2G051AB07
, 2G051AC04
, 2G051CA03
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051EA16
, 2G051EB02
, 2G051EC01
, 2G051EC03
, 2G051ED21
, 5L096FA32
, 5L096FA64
, 5L096FA66
, 5L096GA30
, 5L096GA51
, 5L096HA09
, 5L096HA13
, 5L096JA22
, 5L096KA04
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
表面欠陥の検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-050420
出願人:日本鋼管株式会社
-
表面疵検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-059820
出願人:住友金属工業株式会社
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