特許
J-GLOBAL ID:200903048490518337

耐候性試験装置及び耐候性試験方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-078464
公開番号(公開出願番号):特開2008-241292
出願日: 2007年03月26日
公開日(公表日): 2008年10月09日
要約:
【課題】 従来手法よりも屋外自然曝露との相関性や劣化処理均一性が高く、また、複数枚の被試験基材を同時に劣化処理する耐候性試験が可能であり、さらに、劣化促進因子である酸素原子を有するラジカルの生成量および紫外放射照度の計測、制御によって、処理再現性を高めた耐候性試験装置を提供する。【解決手段】 内部に被試験基材を配置した真空雰囲気の試験室を有し、ラジカル生成源と紫外光源とを備えた耐候性試験装置において、被試験基材に酸素原子を有するラジカルの放射束と紫外放射束とが各々別々に照射されるようにした。また、被試験基材を載置する試料台を回転させ、前記ラジカル放射束と前記紫外放射束とが被試験基材に対して交互に連続して照射されるようにした。さらに、ラジカル生成量及び又は紫外放射照度がフィードバック制御されるようにした。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
内部に耐候性を評価する被試験基材を配置し内部を大気圧以下の圧力に排気、保持可能に構成された試験室を有し、ラジカル放射束を発生可能なラジカル生成源と紫外放射束を発生可能な光源とを備えた耐候性試験装置において、前記ラジカル放射束が原子状酸素ラジカル、分子状酸素ラジカル、ヒドロキシラジカル(・OH)及びヒドロペルオキシラジカル(・OOH)のうちの少なくとも1種類を、前記紫外放射束が波長400nm以下の紫外光をそれぞれ含んでおり、前記ラジカル放射束あるいは前記紫外放射束の照射下でかつ前記ラジカル放射束と紫外放射束とが交差しない箇所に前記被試験基材が配置され、前記被試験基材に前記ラジカル放射束と紫外放射束とが各々別々に照射されることを特徴とする耐候性試験装置。
IPC (1件):
G01N 17/00
FI (1件):
G01N17/00
Fターム (9件):
2G050AA02 ,  2G050AA04 ,  2G050BA09 ,  2G050BA20 ,  2G050EA03 ,  2G050EA04 ,  2G050EB07 ,  2G050EC01 ,  2G050EC07
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 促進耐候性試験方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-314728   出願人:日本ペイント株式会社
  • 試験方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-208884   出願人:日本ペイント株式会社

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