特許
J-GLOBAL ID:200903048494199473
質量分析計用インターフェイスおよび質量分析システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
奥山 尚男 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-290638
公開番号(公開出願番号):特開2001-108656
出願日: 1999年10月13日
公開日(公表日): 2001年04月20日
要約:
【要約】【課題】 水溶液中の非極性分子であるダイオキシン類やPCB等の検出も可能になると同時に、分析システム全体で、短時間に極めて効率的かつ有効に種々の化合物を分析できる装置を提供する。【解決手段】 霧化器によって噴霧された試料を高効率イオン化手段を介して質量分析計に導入するインターフェイスであって、該高効率イオン化手段としてマイクロ波共振器を有し、発生させた霧化器後流のマイクロ波プラズマに該試料を通過させる質量分析用インターフェイス、並びに、該高効率イオン化手段としてヒーターおよび熱電子衝撃イオン化源を有し、該熱電子衝撃イオン化源が差動排気中もしくは差動排気の後流に設けられている質量分析用インターフェイス。
請求項(抜粋):
霧化器によって噴霧された試料を高効率イオン化手段を介して質量分析計に導入するインターフェイスであって、該高効率イオン化手段としてマイクロ波共振器を有し、発生させた霧化器後流のマイクロ波プラズマに該試料を通過させることを特徴とする質量分析用インターフェイス。
IPC (4件):
G01N 27/62
, G01N 27/447
, G01N 30/72
, H01J 49/04
FI (4件):
G01N 27/62 X
, G01N 30/72 G
, H01J 49/04
, G01N 27/26 331 J
Fターム (7件):
5C038EE02
, 5C038EF04
, 5C038EF26
, 5C038GG01
, 5C038GG09
, 5C038GH05
, 5C038GH08
引用特許: