特許
J-GLOBAL ID：200903048498059200

微弱発光計測装置

発明者：
高瀬 長武

高瀬 長武 について

, 
福岡 正芳

福岡 正芳 について


出願人/特許権者：
株式会社明電舎

株式会社明電舎 について


代理人 (1件)： 志賀 富士弥 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-314225
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146825
出願日： 1998年11月05日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：
【要約】【課題】 電気的に制御されるシャッタを無くして故障原因を少なくし、構成をシンプル化するとともに、測定感度を向上させた微弱発光計測装置の提供。【解決手段】 検出部本体12の内部の測定室18内に常時は光電子増倍管13の発光部面を遮蔽し、試験管16が挿入されたとき試験管によって移動される受光手段14を設けることでシャッタを不要となし、試験管16と光電子増倍管13との対向距離を短くして測定感度を向上させる。
請求項（抜粋）：
光測定対象物を試験管に入れ、該試験管に光電子増倍管の受光部を対向させて、暗室とした測定室内で光測定対象物の光を受光して電気信号に変換する発光検出部と、該発光検出部の電気信号を入力して計測する計測部とで構成した微弱発光測定装置において、前記発光検出部は、光電子増倍管の受光部前面に光入射を遮光する移動可能な遮光部材を設け、この遮光部材を、常時は受光部への光入射を遮光し試験管挿入時に該試験管によって移動され受光部に光測定対象物の光が入光できるようにしたことを特徴とする微弱発光計測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/01 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/78
FI (3件)：
G01N 21/01 B ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 21/78 C
Fターム (41件)：
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB05 ,  2G043GB17 ,  2G043GB19 ,  2G043HA02 ,  2G043HA11 ,  2G043LA02 ,  2G043MA01 ,  2G043NA13 ,  2G054AA02 ,  2G054AB03 ,  2G054AB07 ,  2G054CA21 ,  2G054CA28 ,  2G054CE02 ,  2G054EA01 ,  2G054EA02 ,  2G054EA03 ,  2G054FA01 ,  2G054FA09 ,  2G054FA12 ,  2G054FA20 ,  2G054FA23 ,  2G054FA38 ,  2G054FB03 ,  2G054FB04 ,  2G054GA09 ,  2G059AA01 ,  2G059CC20 ,  2G059DD13 ,  2G059EE06 ,  2G059EE07 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK02 ,  2G059LL04
引用特許：
審査官引用 (8件)
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