特許
J-GLOBAL ID：200903048569500778
粒子計測装置のデータ異常判定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-201450
公開番号（公開出願番号）：特開平11-044632
出願日： 1997年07月28日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：
【要約】【課題】 粒子計測装置において得られる度数分布の異常を定量的に判定して、そのメンテナンス時期を適格に知ること。【解決手段】 基準とする粒子計測装置に標準試料を供給し、得られた度数分布の正規分布に対する逸脱の度合を基準逸脱度として算出し、対象とする粒子計測装置に標準試料を供給し、得られた度数分布の正規分布に対する逸脱の度合を比較逸脱度として算出し、基準逸脱度と比較逸脱度とを比較し、その比較結果により、対象とする粒子計測装置から得られた度数分布が異常であるか否かを判定する。
請求項（抜粋）：
基準とする粒子計測装置に標準試料を供給し、得られた度数分布の正規分布に対する逸脱の度合を基準逸脱度として算出し、対象とする粒子計測装置に標準試料を供給し、得られた度数分布の正規分布に対する逸脱の度合を比較逸脱度として算出し、基準逸脱度と比較逸脱度とを比較し、その比較結果により、対象とする粒子計測装置から得られた度数分布が異常であるか否かを判定する粒子計測装置のデータ異常判定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/14 B
, G01N 33/49 H
