特許

J-GLOBAL ID：200903048687455477

液晶表示装置用アクティブマトリクスアレイの検査方法、および液晶表示装置用アクティブマトリクスアレイの検査装置、ならびに液晶表示装置の製造方法

発明者： 山口 彩子 ,  浦岡 行治 ,  川村 哲也
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 村山 光威
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-037747
公開番号（公開出願番号）：特開2000-235197
出願日： 1999年02月16日
公開日（公表日）： 2000年08月29日
要約：

【要約】【課題】 早期に薄膜トランジスタの素子信頼性不良による表示画面異常を検出することにより、不良部品に対する液晶注入あるいはフレキシブル基板実装などの工程を省略可能にする。【解決手段】 パネル組立を行う以前のアクティブマトリックスアレイの状態で、通電ストレス検査を行い(1-2)、薄膜トランジスタの信頼性不良による表示画面異常を検出することにより、不良部品に対する無駄な液晶注入あるいはフレキシブル基板実装などの工程の作業を省き、コスト削減を図る。

請求項（抜粋）：

ガラス基板上に多数形成され、かつ薄膜トランジスタ回路による周辺回路を同一基板上に集積化してなる液晶表示装置用アクティブマトリクスアレイの検査方法であって、前記薄膜トランジスタ回路における素子信頼性不良による表示画面異常を検出するため、アクティブマトリクスアレイの周辺回路に対して通電ストレス検査を行うことを特徴とする液晶表示装置用アクティブマトリクスアレイの検査方法。

IPC (5件)：

G02F 1/1365 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  H01L 21/66 ,  H04N 5/66 102

FI (5件)：

G02F 1/136 500 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  H01L 21/66 H ,  H04N 5/66 102 Z

Fターム (34件)：

2H088EA03 ,  2H088FA10 ,  2H088FA12 ,  2H088FA18 ,  2H088FA24 ,  2H088FA30 ,  2H088HA08 ,  2H088JA05 ,  2H088KA29 ,  2H088MA20 ,  2H092GA56 ,  2H092JB77 ,  2H092MA57 ,  2H092NA25 ,  2H092NA27 ,  2H092NA29 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  4M106AA04 ,  4M106BA14 ,  4M106CA56 ,  4M106CA60 ,  4M106DD10 ,  4M106DH01 ,  4M106DH02 ,  5C058AA06 ,  5C058BA32 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435EE34 ,  5G435KK05 ,  5G435KK09 ,  5G435KK10