特許
J-GLOBAL ID：200903048710086522
顕微鏡における多軸検査用偏光装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松田 省躬
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-509328
公開番号（公開出願番号）：特表2000-509842
出願日： 1997年07月22日
公開日（公表日）： 2000年08月02日
要約：
【要約】本発明は、顕微鏡で多軸観察を行うための偏光装置において、ある場合には、試料をいくつかの側から照射および/または観察することが可能で、また、ある場合には、光の照射軸に対しある角度で試料を観察することが可能となる顕微鏡の多軸観察用偏光装置に関する。この場合、手持ちの顕微鏡と、対物レンズと顕微鏡の焦点面との間に設置される本発明による偏光装置とで試料を観察することができる。
請求項（抜粋）：
顕微鏡で多軸観察を行うための偏光装置において、顕微鏡の対物レンズと顕微鏡の焦点面との間に光束偏光装置があり、そして、ある場合には、一つ以上の光線で試料をいくつかの側から照射することが可能で、および/または一つ以上の光線で試料をいくつかの側から観察することが可能で、またある場合には、光の照射軸に対しある角度で試料を観察することが可能であることを特徴とする顕微鏡の多軸観察用偏光装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
