特許
J-GLOBAL ID：200903048724906336
材料の残留応力測定方法及びその方法に用いられる残留応力開放方法並びに残留応力開放装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-191242
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028442
出願日： 1998年07月07日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：
【要約】【課題】本発明は、放電加工により、応力解放方式による残留応力測定の作業ステップを簡略化なおかつ、測定精度を向上させることを目的とする。【解決手段】円筒形の放電加工電極1を使用し、放電加工電極1に抵抗線ひずみゲージ2のリード線を引き出す開口を設けて、その開口から外に引き出されたリード線4をひずみ測定器に結線しておくことにより、その結線したままひずみゲージ2を材料3に貼付しておき、その状態で放電加工電極1でひずみゲージ2の周囲の材料3部分に溝を作り、その溝でひずみゲージ2を貼付した材料3部分の応力を開放し、その解放後のひずみゲージ2による測定値をひずみ測定器7で読み取る。
請求項（抜粋）：
材料に貼付したひずみゲージの周囲の前記材料部分に溝を作って前記溝で囲われた範囲内の応力を開放した状況での前記ひずみゲージによる測定値を用いて前記材料の残留応力を測定する方法において、前記材料のひずみゲージによる測定が可能な状態を維持したままで前記溝を作ることを特徴とする材料の残留応力測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
2F069AA99
, 2F069BB40
, 2F069DD30
, 2F069GG06
, 2F069GG17
, 2F069KK10
, 2F069MM01
, 2F069PP01
