特許
J-GLOBAL ID:200903049038599750

画像測定方法、画像測定装置、及びセンサユニット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 智廣 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-201131
公開番号(公開出願番号):特開平9-050154
出願日: 1995年08月07日
公開日(公表日): 1997年02月18日
要約:
【要約】【目的】 感光体等の像担持体上に形成された画像のトナー量はもとより、画像の形成状態までをも検出することが可能でしかも構成が簡単な画像測定方法、画像測定装置及びセンサユニットを提供することを主たる目的とする。【構成】 請求項1に記載の画像測定方法は、平行光を被測定画像に照射し、その反射光を集光光学系に入射させ、その反射光の前記集光光学系による無限遠焦点位置近傍を含む領域で複数箇所の反射光量の測定値から、被測定画像の形成状態を測定するように構成した。
請求項(抜粋):
平行光を被測定画像に照射し、その反射光を集光光学系に入射させ、その反射光の前記集光光学系による無限遠焦点位置近傍を含む領域で複数箇所の反射光量の測定値から、被測定画像の形成状態を測定するようにしたことを特徴とする画像測定方法。
IPC (3件):
G03G 15/00 303 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00
FI (3件):
G03G 15/00 303 ,  G01B 11/24 F ,  G06F 15/64 320 B
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 変位センサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-078253   出願人:オムロン株式会社

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