特許
J-GLOBAL ID:200903049224635073

膜分離装置および膜分離方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-147731
公開番号(公開出願番号):特開2008-296188
出願日: 2007年06月04日
公開日(公表日): 2008年12月11日
要約:
【課題】 還元剤を過剰に供給することなく、酸化剤を含有する供給水が半透膜に供給されることを防ぐことができる膜分離装置および膜分離方法を提供する。【解決手段】 前処理を施した供給液を逆浸透膜および/またはナノろ過膜を備えた半透膜モジュールへ供給し膜分離を行うに際し、前記供給液に、前処理中もしくは前処理よりも上流側で酸化剤を供給するとともに、前処理よりも下流側かつ前記半透膜モジュールよりも上流側で還元剤を供給する膜分離方法であって、 前処理よりも下流側かつ前記半透膜モジュールよりも上流側で供給液の酸化剤濃度または酸化還元電位を測定して還元剤供給の要否を決定するともに、還元剤供給よりも下流側かつ前記半透膜モジュールよりも上流側で供給液の酸化剤濃度または酸化還元電位を測定し還元剤の供給量を決定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
逆浸透膜および/またはナノろ過膜を備えた半透膜モジュールと、該半透膜モジュールへの供給液に前処理を施す前処理手段と、該前処理手段内もしくは該前処理手段よりも上流側に配置される、酸化剤を供給する酸化剤供給手段と、前記前処理手段よりも下流側かつ前記半透膜モジュールよりも上流側に配置される、還元剤を供給する還元剤供給手段と、前記前処理手段よりも下流側かつ前記還元剤供給手段よりも上流側に配置される、酸化剤濃度または酸化還元電位を測定する第一の測定手段と、前記還元剤供給手段よりも下流側かつ前記半透膜モジュールよりも上流側に配置される、酸化剤濃度または酸化還元電位を測定する第二の測定手段とを備え、かつ、前記第一の測定手段の測定結果に基づいて還元剤供給の要否を決定するとともに、前記第二の測定手段の測定結果に基づいて還元剤の供給量を決定する制御手段を備えている膜分離装置。
IPC (5件):
B01D 61/04 ,  C02F 1/44 ,  C02F 1/76 ,  C02F 1/70 ,  C02F 1/50
FI (11件):
B01D61/04 ,  C02F1/44 A ,  C02F1/76 A ,  C02F1/70 Z ,  C02F1/50 520F ,  C02F1/50 531P ,  C02F1/50 550H ,  C02F1/50 560E ,  C02F1/50 560Z ,  C02F1/50 510B ,  C02F1/50 550C
Fターム (38件):
4D006GA03 ,  4D006GA04 ,  4D006HA01 ,  4D006HA61 ,  4D006KA01 ,  4D006KA03 ,  4D006KB14 ,  4D006KB15 ,  4D006KB30 ,  4D006KD01 ,  4D006KD02 ,  4D006KD21 ,  4D006KD22 ,  4D006KD23 ,  4D006KD24 ,  4D006KD26 ,  4D006KE30P ,  4D006KE30Q ,  4D006MA01 ,  4D006MA03 ,  4D006MC18 ,  4D006MC54 ,  4D006PA01 ,  4D006PA04 ,  4D006PB03 ,  4D006PB70 ,  4D006PC80 ,  4D050AA02 ,  4D050AA06 ,  4D050AB06 ,  4D050AB45 ,  4D050BA06 ,  4D050BB06 ,  4D050BD06 ,  4D050BD08 ,  4D050CA04 ,  4D050CA09 ,  4D050CA15
引用特許:
出願人引用 (1件)

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