特許
J-GLOBAL ID：200903049361437238
イオン交換膜の評価方法、有機物の評価方法及びX線測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-178360
公開番号（公開出願番号）：特開2004-020476
出願日： 2002年06月19日
公開日（公表日）： 2004年01月22日
要約：
【課題】広く一般的に用いられている装置によって有機高分子材料、例えばイオン交換膜の分子構造を正確に評価できるようにする。【解決手段】イオン交換膜の性能を評価する評価方法である。入射X線の光軸を中心とする小角度領域における散乱X線を検出できるX線測定装置を用いて、イオン交換膜の小角散乱線図Gを求める。小角散乱線図GのピークPの角度位置及び強度によって、イオン交換膜の分子構造、従ってイオン交換能力を評価する。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
イオン交換膜の性能を評価する評価方法において、
入射X線の光軸を中心とする小角度領域における散乱X線を検出できるX線測定装置を用いてイオン交換膜の小角散乱線図を求める工程
を有することを特徴とするイオン交換膜の評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2G001AA01
, 2G001BA14
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001EA09
, 2G001HA01
, 2G001HA07
, 2G001HA12
, 2G001JA04
, 2G001KA12
, 2G001LA20
, 2G001MA05
, 2G001NA19
, 2G001PA06
, 2G001PA07
, 2G001QA01
, 2G001QA10
, 2G001SA04
