特許

J-GLOBAL ID：200903049453435835

多孔性材料の易動性評価方法、プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体

発明者： 齋藤 唯理亜 ,  片岡 弘 ,  江守 秀之 ,  村田 修平 ,  植谷 慶裕 ,  喜井 敬介
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所 ,  日東電工株式会社
代理人 (1件)： 三枝 英二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-300399
公開番号（公開出願番号）：特開2005-069895
出願日： 2003年08月25日
公開日（公表日）： 2005年03月17日
要約：

【課題】 多孔性材料の易動度と孔径分布とを一度に求めることができる多孔性材料の易動性評価方法、プログラム及びその記録媒体を提供すること。 【解決手段】 本発明に係る多孔性材料の易動性評価方法は、磁場勾配NMR法による測定データの中から所定範囲のデータを処理対象データとして指定する第1ステップと、前記処理対象データを使用して、拡散係数の分布関数を含む式で計算される計算値が前記処理対象データを再現するように、前記分布関数のパラメータを反復解法によって求める第2ステップと、求められた前記パラメータを使用して前記式による計算値と対応する前記処理対象データとを比較し、前記式の測定データの再現性を評価する第3ステップと、決定された前記分布関数の平均値及び幅を提示する第4ステップとを含む。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

磁場勾配NMR法によって測定されたエコーデータを用いる多孔性材料の易動性評価方法であって、 勾配磁場パルスの時間幅、勾配磁場強度、及び隣接する勾配磁場パルスの時間間隔からなる群の中の何れか1つを測定パラメータとして変化させて測定された複数の前記エコーデータの中から、前記測定パラメータの大きさの順に連続する所定範囲の前記エコーデータを処理対象データとして指定する第1ステップと、 前記処理対象データを使用して、次の第1式で計算されるM/M0が前記処理対象データを再現するように、

IPC (4件)：

G01N24/00 ,  G01N15/08 ,  G01N24/08 ,  G01R33/46

FI (4件)：

G01N24/00 D ,  G01N15/08 D ,  G01N24/08 510D ,  G01N24/08 520Z

Fターム (1件)：

5H021BB20

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭54-139027号公報
  
• 多孔質部材の気孔率評価方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-305538   出願人：株式会社日立製作所
• 透過性評価方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-164647   出願人：ソニー株式会社