特許
J-GLOBAL ID：200903049481802940
板波超音波探傷方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-166044
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015217
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：
【要約】【目的】 欠陥とノイズとを判別処理することなく容易に欠陥を検出して、探傷速度を速くすることができる板波超音波探傷方法及びその実施に使用する装置を提供する。【構成】 CPU9の平滑化処理部91はフレームメモリ7から読み込んだ2次元探傷画像を構成する複数の画素に対応する信号それぞれについて、例えば2次元探傷画像における任意の画素の8近傍の画素範囲における各画素の信号の濃淡のレベルを平滑化し、当該画素の信号のレベルを平滑化したレベルにして平滑化処理画像を得る。2値化処理部92はこの平滑化処理画像を128階調を閾値にして2値化する。2値化欠陥検出部93は2値化画像から欠陥像を抽出した欠陥抽出画像を得、欠陥検出部94は欠陥抽出画像を2次元探傷画像又は平滑化処理画像に重畳させて、重複した部分を欠陥像として2次元探傷画像又は平滑化処理画像から抽出し、欠陥判定部95は抽出した欠陥像に基づいて欠陥の程度を判定する。
請求項（抜粋）：
被探傷材及び該被探傷材に対向すべく配した超音波探触子を相対移動させつつ、前記超音波探触子から超音波を所定周期で送信し、それを板波超音波として移動方向と直交する方向へ伝播させ、各反射波を受信して得た複数の探傷信号から2次元探傷画像を形成し、該2次元探傷画像に基づいて被探傷材の欠陥を探傷する方法において、前記2次元探傷画像を平滑化処理して平滑化処理画像を得、得られた平滑化処理画像を予め設定された閾値に基づいて2値化し、2値化した画像から欠陥に係る2値化像を抽出することを特徴とする板波超音波探傷方法。
IPC (2件)：
G01N 29/10 501
, G01N 29/22 501
G01N 29/10 501
, G01N 29/22 501
