論理回路のテスト方法およびそのテスト回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-076091
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264929
出願日： 1996年03月29日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：

【要約】【課題】バウンダリスキャン・セルを用いたテスト回路において、端子の短絡故障時に、端子における電圧が中間電圧となっても確度よく短絡故障を検出できるようにする。【解決手段】外部端子7の電圧レベルをコンパレータ6を介してキャプチャーレジスタreg2に入力させることにより、電圧レベルの判別を、キャプチャーレジスタreg2のスレッシュホールドレベルで判別させるのではなく、コンパレータ6の入力端(-)の基準電圧Vrefで判別させることで、Hレベル,Lレベルのどちらになるか分からない中間電圧レベルを特定することで、確度よく短絡故障を検出できる。

請求項（抜粋）：

入力端子から供給されるデータを所定の制御信号に応答して選択的に出力させ、この選択データを従属接続された第1のレジスタに第1のクロックに同期させて順次に直列データとして入力させかつ順次に読み出させるとともに、この読み出されたデータをさらに従属接続された第2のレジスタに第2のクロックに同期させて順次に入力させ、かつ順次に読み出して外部端子へ出力させるとともに、このデータを、あらかじめ基準電圧生成手段で生成した故障検出用の基準電圧を用いて前記外部端子の電位が中間レベルであれば期待レベルに対して反対の電圧レベルを出力するようにコンパレータでレベル判定させ、その判定出力データを前記セレクタで選択させて再び前記第1のレジスタに順次に入力させ、その出力を次段のテスト回路に取り込んで、前記期待レベルと異る電圧レベルを検出して前記外部端子の短絡故障を判定するようにしたことを特徴とする論理回路のテスト方法。

FI (2件)：

G01R 31/28 M , G01R 31/28 D

引用特許：

審査官引用 (3件)

プリント回路板試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-198619 出願人：富士通株式会社
特開昭54-147879
特開昭56-001358

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