特許
J-GLOBAL ID：200903049620407911
コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
畝本 正一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-051563
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242204
出願日： 2000年02月28日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：
【要約】【課題】 簡単かつ迅速にしかも正確に直流抵抗を測定できるコンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 コンデンサ(4)を定電流等の充電電流(ic)で所定電圧(Vm)まで充電させた後、コンデンサ(4)を一定時間開放状態に置いて端子間電圧(Vn)を測定し、前記所定電圧(Vm)から前記一定時間経過後の端子間電圧(Vn)を減算して電圧降下(ΔV=Vr)を求め、この電圧降下を充電電流(ic)で除すことにより、コンデンサの直流抵抗(r)を算出する直流測定方法及びその装置である。このような構成によれば、簡単かつ迅速にしかも正確に電気二重層コンデンサの直流抵抗を求めることができる。
請求項（抜粋）：
コンデンサを定電流又は定電流と同等の電流を充電電流として充電する工程と、前記コンデンサの端子間電圧を所定電圧に到達させた後、前記コンデンサを開放状態にする工程と、前記開放状態で一定時間が経過した後、前記コンデンサの端子間電圧を測定する工程と、前記所定電圧から前記一定時間経過後の前記端子間電圧を減算して算出される電圧降下を前記充電電流で除して前記コンデンサの直流抵抗を算出する工程と、を備えたことを特徴とするコンデンサの直流抵抗測定方法。
IPC (3件)：
G01R 27/02
, H01G 9/155
, H01G 13/00 361
G01R 27/02 R
, H01G 13/00 361 Z
, H01G 9/00 301 Z
2G028AA01
, 2G028AA02
, 2G028BB06
, 2G028CG02
, 2G028DH03
, 2G028DH13
, 2G028FK01
, 2G028HN11
, 2G028HN13
, 5E082AB09
, 5E082BC40
, 5E082MM35
