特許
J-GLOBAL ID:200903049648536083
物体の性状を分析又は同定するためのセンサ、それを用いたセンシング装置及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
西山 恵三
, 内尾 裕一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-287388
公開番号(公開出願番号):特開2006-153852
出願日: 2005年09月30日
公開日(公表日): 2006年06月15日
要約:
【課題】 物体の量が少ないものであっても、正確に検出することが求められていた。【解決手段】 そこで、本発明は、電磁波を伝播させ、物体を複数箇所に配置し得る導波路と、前記複数箇所で前記物体と相互作用し、前記導波路を伝播した前記電磁波を検出するための検出部とを備え、前記検出部で検出される前記電磁波から得られる情報を基に、前記物体の性状を分析又は同定するセンサを提供する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
電磁波を伝播させ、物体を複数箇所に配置し得る導波路と、
前記複数箇所で前記物体と相互作用し、前記導波路を伝播した前記電磁波を検出するための検出部とを備え、
前記検出部で検出される前記電磁波から得られる情報を基に、前記物体の性状を分析又は同定することを特徴とするセンサ。
IPC (2件):
FI (5件):
G01N21/35 Z
, G01N22/00 K
, G01N22/00 U
, G01N22/00 V
, G01N22/00 W
Fターム (13件):
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF11
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH05
, 2G059JJ17
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059KK03
, 2G059MM10
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
センサプレート
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-252694
出願人:スズキ株式会社
審査官引用 (3件)
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