X線回折試料極低温冷却装置

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (2件)：阿仁屋節雄 (外3名) , 阿仁屋節雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-277525
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136478
出願日： 1994年11月11日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：

【要約】【目的】 X線回折に寄与する試料表面部の温度が試料の温度として測定される試料ホルダ等の温度に略等しくなるようにして、試料の正確なX線分析を行えるようにする。【構成】気密ケース5の内部に冷却部としてのファーストステージ24とセカンドステージ25とを設け、このセカンドステージ25の第2の冷却部位27に試料ホルダ41を固定し、この試料ホルダ41の表面に試料板11を介して試料4を固定すると共に、試料ホルダ41に試料4の外周を覆う均熱ブロック51を取り付けてある。これによって試料4の表面と均熱ブロック51との間で熱輻射による熱交換が行なわれるようにし、試料4の表面の温度と、均熱ブロック51や該均熱ブロック51に熱伝導的熱結合された試料ホルダ41の温度とを略等しく維持できるようにした。

請求項（抜粋）：

内部に試料を配置する気密ケースと、この気密ケースの内部に設けられて前記試料を所定の温度に冷却する冷却部と、この冷却部に固定されて前記試料を前記気密ケース内の測定位置に保持する試料ホルダとを有し、前記気密ケースの外側に設けたX線源からこの気密ケースのX線透過窓を介してX線を照射すると共に、前記試料からの回折X線を前記X線透過窓を介してX線検出器で検出するようにしたX線回折試料極低温冷却装置であって、前記試料ホルダに前記試料の外周を覆う均熱ブロックを設けたことを特徴とするX線回折試料極低温冷却装置。

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開平4-083151
X線分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-259611 出願人：株式会社マックサイエンス
特開昭57-136149

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