特許
J-GLOBAL ID：200903050032958993
遊技機制御用半導体デバイス並びにそのための検査装置及び検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
熊倉 禎男
, 大塚 文昭
, 今城 俊夫
, 西島 孝喜
, 上杉 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-296275
公開番号（公開出願番号）：特開2006-102364
出願日： 2004年10月08日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】 比較的簡易に遊技機制御チップの偽造品や不正改造品を判別することができる遊技機制御チップ、そのための検査方法及び検査装置を提供する。【解決手段】 パッケージの印字領域10には第一の識別情報であるロット番号(L)等が印字され、チェックコード印字領域12には第一の識別情報を変数として演算を行って得られるハッシュ関数の値が印字され、コード印字領域14には第一の識別情報及びチェックコードの文字や数字を符合化した、機械的に読み取ることができるコード(例えば二次元コード)が印字される。二次元コードは、一般的な印刷技術を用いて印字することができ、人間が一見しただけではどういう内容が含まれているかを認識することが難しい一方、光学的な読み取り装置によって正確かつ高速に読み取ることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
パッケージの表面に個々の遊技機制御用半導体デバイスを識別する第一の識別情報が文字として印字される遊技機制御用半導体デバイスにおいて、
前記第一の識別情報を変数として生成される関数の値を、前記文字情報と併せて文字としてパッケージに印字したことを特徴とする遊技機制御用半導体デバイス。
IPC (1件)：
FI (2件)：
A63F7/02 326Z
, A63F7/02 330
2C088BC45
, 2C088CA31
, 2C088DA21
