特許

J-GLOBAL ID：200903050152532663

外観検査装置のメモリ管理方式

発明者： 山根 俊樹 ,  服部 真之 ,  杉本 義彦
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-174532
公開番号（公開出願番号）：特開平8-044870
出願日： 1994年07月26日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：

【要約】【目的】外観検査装置に内蔵した不揮発性メモリに無駄な空き領域が生じないように利用する。【構成】不揮発性メモリMは、使用条件に関する環境データと各被検査物ごとに設定される品種データとユーザプログラムとを登録することができる。不揮発性メモリMの記憶領域は一定サイズの多数個のブロックB1 〜Bnに分割される。また、各ブロックB1 〜Bnへの格納内容と格納したブロックB1 〜Bnとの対応関係を示すアロケーションテーブルATが不揮発性メモリMに設けられる。

請求項（抜粋）：

被検査物を画像入力装置により撮像して得た画像に基づいて被検査物の外観を検査する外観検査装置に設けられ使用条件に関する環境データと各被検査物ごとに設定される品種データとユーザプログラムとを登録することができる書換可能なメモリについて、記憶領域を一定サイズの多数個のブロックに分割するとともに、各ブロックへの格納内容と格納したブロックとの対応関係を示すアロケーションテーブルをメモリ内に設けたことを特徴とする外観検査装置のメモリ管理方式。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G06F 12/02 510 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-232029
  
• 検査用プログラムデ-タ作成方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-131636   出願人：日立電子株式会社
• メモリカード装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-215421   出願人：京セラ株式会社
• 特開平3-232029