特許
J-GLOBAL ID：200903050232498857
光波断層画像測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-007505
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214130
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：
【要約】【課題】 3次元速度ベクトル測定が可能な光波断層画像測定装置を提供する。【解決手段】 光波断層画像測定装置において、コヒーレント光源201からの光波を4つに分け、それぞれ3個の周波数シフター207,208,209を透過させて第1光波1,第2光波2,第3光波3および前記周波数シフターを通さずに参照光として光検出器219に入射される第4光波4(周波数:f0 +f1,2,3 )となし、前記第1光波1は対物レンズ(OL)213の光軸上をOL213に入射し、前記第2光波2は前記OL213の周辺部でOL213に入射し、その出射光波は、X-Z平面内でなす角θで前記第1光波1と交叉させ、さらに前記第3光波3は前記OL213の周辺部でこのOL213に入射し、出射光波は、Y-Z平面内でなす角θで前記第1光波1と交叉させ、生体組織である散乱体が速度V1 で移動しているとき、この散乱体による散乱光は、前記光検出器219でヘテロダイン検出され、RFスペクトラムアナライザー220で周波数分析される。
請求項（抜粋）：
コヒーレント光源からの光波を4つに分け、それぞれ3個の周波数シフターを透過させて第1光波、第2光波、第3光波及び前記周波数シフターを通さずに参照光として光検出器に入射される第4光波(周波数:f0 +f1,2,3 )となし、前記第1光波は対物レンズの光軸上を該対物レンズに入射し、前記第2光波は前記対物レンズの周辺部で該対物レンズに入射し、その出射光波はX-Z平面内でなす角θで前記第1光波と交叉させ、さらに前記第3光波は前記対物レンズの周辺部で該対物レンズに入射し、その出射光波は、Y-Z平面内でなす角θで前記第1光波と交叉させ、生体組織である散乱体が所定速度で移動しているとき、前記散乱体による散乱光は、前記光検出器でヘテロダイン検出され、RFスペクトラムアナライザーで周波数分析されることを特徴とする光波断層画像測定装置。
IPC (2件)：
G01N 21/17 630
, A61B 10/00
G01N 21/17 630
, A61B 10/00 E
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ22
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
