特許
J-GLOBAL ID：200903050608844077

フロウタイプ時間分解測定法とそれを用いた分析システム

発明者：
斎藤 充弘

斎藤 充弘 について

, 
保田 和雄

保田 和雄 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-268349
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071565
出願日： 2000年09月05日
公開日（公表日）： 2002年03月08日
要約：
【要約】【課題】本発明は、蛍光測定装置又は燐光測定装置を用いて、励起光が試料以外の物に照射されることによる散乱光や干渉光等の分析上、障害となる攪乱光の影響を低減したフロウタイプ時間分解手法及びそれを用いた試料中の微量成分を高感度で測定できる分析システムを提供する。【解決手段】蛍光測定装置又は燐光測定装置を用いて、試料をマイクロデバイス上に形成された管又は溝に導き、前記マイクロデバイス上の該試料に対する励起光の照射時と前記試料からの発光時で前記マイクロデバイス上の異なる位置で測光されるフロウタイプ時間分解測定法とそれを用いた分析システム。
請求項（抜粋）：
蛍光測定装置又は燐光測定装置を用いて、試料をマイクロデバイス上に形成された管又は溝に導き、前記マイクロデバイス上の該試料に対する励起光の照射時と前記試料からの発光時で前記マイクロデバイス上の異なる位置で測光されることを特徴とするフロウタイプ時間分解測定法。
IPC (2件)：
G01N 21/64 ,  G01N 37/00 101
FI (2件)：
G01N 21/64 B ,  G01N 37/00 101
Fターム (17件)：
2G043AA01 ,  2G043CA03 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA04 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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