特許
J-GLOBAL ID：200903050927569623

荷電粒子線照射装置、及び荷電粒子線照射方法

発明者：
西尾 禎治

西尾 禎治 について

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荻野 尚

荻野 尚 について

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野村 和弘

野村 和弘 について

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立川 敏樹

立川 敏樹 について


出願人/特許権者：
国立がんセンター総長

国立がんセンター総長 について

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住友重機械工業株式会社

住友重機械工業株式会社 について


代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  黒木 義樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-009544
公開番号（公開出願番号）：特開2008-173299
出願日： 2007年01月18日
公開日（公表日）： 2008年07月31日
要約：
【課題】 照射室内における被照射体の位置決め精度の向上が図られた荷電粒子線照射装置、及び荷電粒子線照射方法を提供すること。【解決手段】 照射室103内において、被照射体51に注入された放射性薬剤の到達位置から発生する消滅γ線を検出し、放射性薬剤の到達位置である照射目標位置を検出する。また、被照射体51に照射された荷電粒子線と被照射体51内の原子核との核反応によって生成されたポジトロン放出核からの消滅γ線を検出し、実際に照射された荷電粒子線の到達位置を検出する。これにより、照射室103内において、照射目標位置、及び実際に照射された荷電粒子線の到達位置を確認することで、照射目標位置と実際に照射された荷電粒子線の到達位置との位置ずれを修正し、適切な位置に被照射体51を位置決めすることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被照射体を載置した載置台が照射室内の所定の位置に配置されて、前記被照射体へ荷電粒子線の照射が行われる荷電粒子線照射装置において、 前記被照射体に注入された放射性薬剤が到達した位置である照射目標位置から発生する消滅γ線を検出する第1の検出器と、 前記第1の検出器による消滅γ線の検出結果に基づいて照射目標位置を検出する照射目標位置検出手段と、 前記被照射体に照射された荷電粒子線と前記被照射体内の原子核との核反応によって生成されたポジトロン放出核からの消滅γ線を検出する第2の検出器と、 前記第2の検出器による消滅γ線の検出結果に基づいて荷電粒子線到達位置を検出する荷電粒子線到達位置検出手段とを備えることを特徴とする荷電粒子線照射装置。
IPC (1件)：
A61N 5/10
FI (3件)：
A61N5/10 M ,  A61N5/10 H ,  A61N5/10 T
Fターム (9件)：
4C082AC05 ,  4C082AE03 ,  4C082AG12 ,  4C082AG22 ,  4C082AG33 ,  4C082AJ07 ,  4C082AJ16 ,  4C082AJ20 ,  4C082AL07
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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