特許

J-GLOBAL ID：200903051046062913

三次元形状計測装置

発明者： 堀口 幸弘
出願人/特許権者： 株式会社モリテックス
代理人 (1件)： 三觜 晃司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-007816
公開番号（公開出願番号）：特開2007-187634
出願日： 2006年01月16日
公開日（公表日）： 2007年07月26日
要約：

【課題】従来の三次元形状計測装置において対象物の内面を計測しようとすると、装置が大きいため対象物の径が制限されたり、計測範囲が制限されるというような課題があった。【解決手段】本発明では、このような課題を解決するために、スリット光源6と、このスリット光源のスリット光の照射方向に配置したスリット光反射用ミラー11と、このスリット光反射用ミラーによって反射したスリット光が照射される対象物2を撮像するように配置したカメラ7とから構成した三次元形状計測装置を提案している。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

スリット光源と、このスリット光源のスリット光の照射方向に配置したスリット光反射用ミラーと、このスリット光反射用ミラーによって反射したスリット光が照射される対象物を撮像するように配置したカメラとから構成したことを特徴とする三次元形状計測装置。

IPC (1件)：

G01B 11/24

FI (1件)：

G01B11/24 K

Fターム (12件)：

2F065AA53 ,  2F065BB08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF42 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065MM04 ,  2F065MM07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第2947670号公報
  

審査官引用 (5件)

• 特開昭57-137084
  
• 凹凸面の表面欠陥検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-048837   出願人：アイシン精機株式会社
• 内部寸法測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-174703   出願人：菱栄エンジニアリング株式会社
• 特開昭57-137084
  
• 特開昭60-093424