特許

J-GLOBAL ID：200903051416634253

液体試料中の粒子画像解析方法及び装置

発明者： 白石 宗 ,  坂詰 卓 ,  大和田 伯男
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ ,  株式会社日立サイエンスシステムズ
代理人 (2件)： 小川 勝男 ,  田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-066536
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279032
出願日： 2003年03月12日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：

【課題】粒子画像の特徴量を利用し、撮影保存する画像を選択可能にすることにより、少数の粒子成分画像の検出率が高い粒子画像解析方法および装置を提供する。【解決手段】検体に含まれる粒子の一部の種別と頻度を予め予想して、予め定められたパラメータを選択し、それに基づいて画像取得の方法を決定し、または画像取得タイミングを制御する手段を備えた画像解析装置。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

複数種の粒子を含む懸濁液中における粒子の形態を画像により分類し、粒子の出現頻度を求めるため、試料中の粒子群の一部から、試料の性向を予測し、その性向に従って用いるパラメータを選定し、当該パラメータにより対象試料の一部を測定することにより粒子の出現頻度を求めることを特徴とする液体試料中の粒子画像解析方法。

IPC (3件)：

G01N15/02 ,  G01N15/14 ,  G01N33/483

FI (4件)：

G01N15/02 B ,  G01N15/14 C ,  G01N15/14 P ,  G01N33/483 C

Fターム (10件)：

2G045AA02 ,  2G045AA15 ,  2G045AA24 ,  2G045CA25 ,  2G045CB01 ,  2G045CB03 ,  2G045FA14 ,  2G045FA16 ,  2G045FA19 ,  2G045JA01

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 粒子画像解析方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-086104   出願人：株式会社日立製作所