特許

J-GLOBAL ID：200903051659925329

検眼装置

発明者： 細井 良晋
出願人/特許権者： 株式会社ニデック
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-222693
公開番号（公開出願番号）：特開平9-047430
出願日： 1995年08月07日
公開日（公表日）： 1997年02月18日
要約：

【要約】【課題】 非測定眼の暗順応による検査への影響をできる限り抑える。【解決手段】 左右一対のレンズユニット内に、多数の光学素子が配置された複数の回転ディスクをそれぞれ持ち、該回転ディスクの回転により所望の光学特性の光学素子を検査窓に切り換え配置して、被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、前記回転ディスクに可視光の少なくても一部を透過するが視標の視認が困難な光学素子を配置し、片眼検査時に非測定眼側の検査窓に配置することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

左右一対のレンズユニット内に、多数の光学素子が配置された複数の回転ディスクをそれぞれ持ち、該回転ディスクの回転により所望の光学特性の光学素子を検査窓に切り換え配置して、被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、前記回転ディスクに可視光の少なくても一部を透過するが視標の視認が困難な光学素子を配置し、片眼検査時に非測定眼側の検査窓に配置することを特徴とする検眼装置。

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 自覚眼屈折計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-272375   出願人：キヤノン株式会社

審査官引用 (1件)

• 自覚眼屈折計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-272375   出願人：キヤノン株式会社