特許
J-GLOBAL ID：200903051813533765

粉体の付着力測定方法および装置

発明者：
飯村 治雄

飯村 治雄 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-041673
公開番号（公開出願番号）：特開平11-237327
出願日： 1998年02月24日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、粉体の遠心分離式付着力測定方法および装置において、静電的付着力と非静電的付着力のそれぞれを測定できる粉体の付着力測定方法および装置を提供することを課題とする。【解決手段】 遠心分離装置により粉体を付着させた試料基板から受け基板21に粉体を付着させた後、コンプレッサー32によりノズル29からガスを吹き付け、受け基板21上の粉体を分離し、電荷測定装置28により受け基板21の電荷量を測定する。事前に測定した受け基板21の付着面に付着した粉体の個数と前記電荷量から粉体1個当たりの電荷量を求めることにより、電荷量と付着力の関係を求め、粉体の静電的付着力と非静電的付着力を求めることができる。
請求項（抜粋）：
粉体を付着させた試料面を有する試料基板と、前記試料基板から分離した粉体が付着する付着面を有する受け基板と、前記試料基板の試料面と前記受け基板の付着面の間に設けられたスペーサとから構成される測定セルを回転させ、前記試料基板の試料面に付着した前記粉体を、前記受け基板の付着面に付着させる遠心分離工程と、前記遠心分離工程を、前記受け基板を交換して、複数の回転数について行う回転数別遠心分離工程と、前記受け基板の付着面に付着した粉体の粒径と個数を測定する粉体個数測定工程と、前記粉体の粒径と比重から粉体の重量を求め、粉体の重量と前記回転数から前記粉体の前記試料基板の試料面への付着力を求める付着力算定工程と、前記受け基板の付着面に付着した粉体にガスを吹き付けることによって、前記粉体を前記受け基板の付着面から分離する粉体分離工程と、前記受け基板の電荷量を測定する電荷測定工程と、前記受け基板の付着面に付着した粉体の個数と電荷量から粉体一個あたりの電荷量を求め、粉体の電荷量と付着力の関係から静電的付着力および非静電的付着力を求める、静電的付着力および非静電的付着力算定工程と、を備えたことを特徴とする粉体の付着力測定方法。
IPC (4件)：
G01N 15/00 ,  G01L 5/00 ,  G01N 27/60 ,  G03G 9/087
FI (4件)：
G01N 15/00 Z ,  G01L 5/00 Z ,  G01N 27/60 F ,  G03G 9/08 381
引用特許：
審査官引用 (6件)
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