特許

J-GLOBAL ID：200903051898775347

真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置

発明者： 今田 宗利 ,  圷 聖一
出願人/特許権者： シャープマニファクチャリングシステム株式会社 ,  株式会社オシキリ
代理人 (2件)： 西教 圭一郎 ,  杉山 毅至
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-134576
公開番号（公開出願番号）：特開2007-305005
出願日： 2006年05月13日
公開日（公表日）： 2007年11月22日
要約：

【課題】 誤判定することなく高精度に真円度を計測することが可能な真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置を提供する。【解決手段】 まず、ステップA1〜A4によって画像データに含まれる所定の画素群であるワーク部分を抽出して分離する。ステップA5では、分離した各ワークの輪郭探索を行い、外周に属する全画素の座標を検出する。ステップA6では、外周に属する画素の座標に基づいて、円の中心座標を検出する。ステップA7で、外周画素の座標と中心座標とから、中心から外周までの平均距離、最長距離、最短距離を算出し、ステップA8で、ワークの中心から外周までの平均距離、最大距離、最小距離を用いて真円度を計測する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

画像に含まれる円形状の真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法であって、 所定の画素群を検出して画素群ごとに分離する分離ステップと、 分離した各画素群の外周に属する画素を検出する外周検出ステップと、 外周に属する画素に基づいて円の中心を検出する中心検出ステップと、 検出した中心と、外周に属する各画素との距離を算出する距離算出ステップと、 少なくとも、算出された距離のうち最も短い距離である最短距離と、算出された距離のうち最も長い距離である最長距離とに基づいて真円度を計測する計測ステップとを有することを特徴とする画像処理方法。

IPC (3件)：

G06T 1/00 ,  G06T 7/60 ,  G01B 11/08

FI (5件)：

G06T1/00 300 ,  G06T7/60 150C ,  G06T7/60 150H ,  G06T7/60 200C ,  G01B11/08 H

Fターム (39件)：

2F065AA17 ,  2F065AA26 ,  2F065AA48 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU05 ,  5B057AA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE09 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB08 ,  5B057DC02 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC17 ,  5L096BA08 ,  5L096CA14 ,  5L096EA43 ,  5L096FA04 ,  5L096FA06 ,  5L096FA32 ,  5L096FA59 ,  5L096FA62 ,  5L096FA65 ,  5L096FA66 ,  5L096GA34

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像処理による真円度の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-184991   出願人：松下電工株式会社

審査官引用 (3件)

• 画像による円形穴の測定における画像処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-113396   出願人：株式会社モリテックス
• 特開平1-288704
  
• 画像処理方法およびその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-335627   出願人：オムロン株式会社