特許
J-GLOBAL ID：200903052191880485
分光計の標準化方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-523915
公開番号（公開出願番号）：特表平10-513560
出願日： 1996年02月09日
公開日（公表日）： 1998年12月22日
要約：
【要約】試料から光スペクトルを発生する分光計を標準化する方法であって、所定の周波数範囲において特性パターンを示す光学スペクトルに帰着する化学組成を有する少なくとも一つの標準化試料から、少なくとも一つの光学スペクトルを発生する段階と、パターンに関する情報を、少なくとも一つの標準化試料からの所望の標準応答として予め決められた少なくとも一つの基準パターンに関する対応情報と比較する段階と、この比較に基づいて、発生したスペクトルのパターンの基準への遷移を記述する標準化パラメータを決定する段階と、そして前記標準化パラメータを分光計又はこれに接続するコンピュータに記憶し、分光計が未知の試料に対したとき、予め決められた同じ基準パターンを使って同じ化学組成の試料により標準化された対応分光計で発生するものと実質的に同じ光学スペクトルを標準化パラメータを用いて発生する段階を具備する。本発明の方法はいずれの数の機器が設けられても好適に規定された状態に機器を標準化する方法に関する。この状態では、較正は機器と機器の間で自由に転送される。
請求項（抜粋）：
試料から光学スペクトルを発生する分光計を標準化する方法であって、 - 所定の周波数範囲に於いて特性パターンを示す光学スペクトルに帰着する化学組成を有する少なくとも一つの標準化試料から、少なくとも一つの光学スペクトルを発生する段階と、 - パターンに関する情報を、少なくとも一つの標準化試料からの所望の標準応答として予め決められた少なくとも一つの基準パターンに関する対応情報と比較する段階と、 - この比較に基づいて、発生したスペクトルのパターンの基準パターンへの遷移を記述する標準化パラメータを決定する段階と、そして - 前記標準化パラメータを分光計又はこれに接続するコンピュータに記憶し、分光計が未知の試料に対したとき、予め決められた同じ基準パターンを使って同じ化学組成の試料により標準化された対応分光計で発生するものと実質的に同じ光学スペクトルを標準化パラメータを用いて発生する段階とからなることを特徴とする分光計の標準化方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 3/443
, G01N 21/27 F
