特許
J-GLOBAL ID：200903052746104303

粒度分布計測装置および方法

発明者：
江藤 和宣

江藤 和宣 について

, 
川島 章浩

川島 章浩 について


出願人/特許権者：
JFEスチール株式会社

JFEスチール株式会社 について


代理人 (1件)： 中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-424111
公開番号（公開出願番号）：特開2005-181169
出願日： 2003年12月22日
公開日（公表日）： 2005年07月07日
要約：
【課題】粉粒体の粒度分布を画像処理により計測する方法であって、精度の高い粒度分布計測装置および方法を提供する。【解決手段】ベルトコンベア7上の石炭5を撮像するCCDカメラ1、撮像照明を行う閃光照明装置2、この閃光照明装置2用の閃光照明用電源3、画像撮像と閃光照明起動タイミングを制御する制御装置5、および撮像された石炭画像を収集し粒度分布解析を行う粒度分布解析装置4で構成され、閃光照明装置2は、撮像装置のシャッター開放時間より短い発光時間を有している。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
搬送体に載せられて移動中の粉粒体を撮像装置により撮像し、画像処理によりその粒度分布を計測する装置において、 前記粉粒体の撮像照明を行う閃光照明装置と、 該閃光照明装置と前記撮像装置とを制御する制御装置と、 撮像された画像を画像処理し粒度分布解析する粒度分布解析装置とを有することを特徴とする粒度分布計測装置。
IPC (1件)：
G01N15/02
FI (1件)：
G01N15/02 B
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
  • 特開昭54-148558
  • 粒度測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-019921   出願人：日本鋼管株式会社
  • 特開昭54-148558

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