特許
J-GLOBAL ID：200903052821482815
粒度測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-019921
公開番号（公開出願番号）：特開2002-221481
出願日： 2001年01月29日
公開日（公表日）： 2002年08月09日
要約：
【要約】【課題】 物体の粒度を画像処理により計測する方法であって、正確な測定ができる粒度測定装置を提供する。【解決手段】 石炭1はベルトコンベア2によって搬送されてくるが、その表面は平滑でなく凹凸が形成されている。整粒板3はこのベルトコンベア2上に設置されており、ベルトコンベア2上の石炭1の表面を常に均一に均すようになっている。均一に均された石炭1の表面には凹凸が無く、常に安定したレベルに保たれている。よって、物体の表面と撮像装置との距離が略一定となり、実際の粒度と撮像される像の粒度が対応するので画像処理による正確な粒度測定が可能となる。そこで、CCDカメラ4を石炭1表面に近い位置に設置し、小粒径の石炭1に対してより鮮明な画像を得る。得られた画像は画像処理装置5に入力し、画像処理を行なうことにより、粒度分布を測定する。
請求項（抜粋）：
搬送体に載せられて移動中の物体を撮像装置により撮像し、画像処理によりその粒度を測定する装置であって、前記物体の流れの、前記撮像装置より上流側に、前記物体の表面と前記撮像装置との距離を略一定に保つ整粒板を設けたことを特徴とする物体の粒度測定装置。
引用特許：
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