特許
J-GLOBAL ID:200903052765611410

シリカ系膜の形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 白井 重隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-011088
公開番号(公開出願番号):特開2001-206710
出願日: 2000年01月20日
公開日(公表日): 2001年07月31日
要約:
【要約】【課題】 半導体素子などにおける層間絶縁膜として有用な、低密度、低誘電率、高弾性率、低吸水率のシリカ系膜を提供する。【解決手段】 (A)ポリシロキサン、(B)有機ポリマーおよび(C)有機溶媒を含むコーティング組成物を基板に塗布し、有機溶媒を除去したのち、真空または不活性ガス雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、次いで酸素分圧1Pa以上の雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、さらに酸素分圧1Pa未満の雰囲気下で350〜470°Cに加熱し、シリカ系膜を得る。
請求項(抜粋):
(A)ポリシロキサン、(B)有機ポリマーおよび(C)有機溶媒を含むコーティング組成物を基板に塗布し、有機溶媒を除去したのち、真空または不活性ガス雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、次いで酸素分圧1Pa以上の雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、さらに酸素分圧1Pa未満の雰囲気下で350〜470°Cに加熱することを特徴とするシリカ系膜の形成方法。
IPC (4件):
C01B 33/12 ,  C09D183/00 ,  H01L 21/312 ,  H01L 21/316
FI (4件):
C01B 33/12 C ,  C09D183/00 ,  H01L 21/312 C ,  H01L 21/316 G
Fターム (54件):
4G072AA28 ,  4G072BB09 ,  4G072CC13 ,  4G072FF01 ,  4G072FF02 ,  4G072FF04 ,  4G072FF09 ,  4G072GG03 ,  4G072HH29 ,  4G072HH30 ,  4G072JJ11 ,  4G072JJ13 ,  4G072JJ47 ,  4G072KK01 ,  4G072KK07 ,  4G072KK09 ,  4G072KK17 ,  4G072LL11 ,  4G072LL13 ,  4G072LL14 ,  4G072LL15 ,  4G072MM01 ,  4G072NN21 ,  4G072PP17 ,  4G072RR05 ,  4G072UU01 ,  4G072UU30 ,  4J038CG002 ,  4J038DD002 ,  4J038DE002 ,  4J038DF002 ,  4J038DL031 ,  4J038HA236 ,  4J038JA35 ,  4J038JB01 ,  4J038JC13 ,  4J038JC38 ,  4J038KA06 ,  4J038NA07 ,  4J038NA11 ,  4J038NA17 ,  4J038NA21 ,  4J038PA19 ,  4J038PB09 ,  4J038PC02 ,  4J038PC03 ,  4J038PC04 ,  5F058AA04 ,  5F058AA10 ,  5F058AC03 ,  5F058AF04 ,  5F058AG01 ,  5F058AH01 ,  5F058AH02
引用特許:
審査官引用 (1件)

前のページに戻る