特許
J-GLOBAL ID:200903052765611410
シリカ系膜の形成方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
白井 重隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-011088
公開番号(公開出願番号):特開2001-206710
出願日: 2000年01月20日
公開日(公表日): 2001年07月31日
要約:
【要約】【課題】 半導体素子などにおける層間絶縁膜として有用な、低密度、低誘電率、高弾性率、低吸水率のシリカ系膜を提供する。【解決手段】 (A)ポリシロキサン、(B)有機ポリマーおよび(C)有機溶媒を含むコーティング組成物を基板に塗布し、有機溶媒を除去したのち、真空または不活性ガス雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、次いで酸素分圧1Pa以上の雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、さらに酸素分圧1Pa未満の雰囲気下で350〜470°Cに加熱し、シリカ系膜を得る。
請求項(抜粋):
(A)ポリシロキサン、(B)有機ポリマーおよび(C)有機溶媒を含むコーティング組成物を基板に塗布し、有機溶媒を除去したのち、真空または不活性ガス雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、次いで酸素分圧1Pa以上の雰囲気下で250〜400°Cに加熱し、さらに酸素分圧1Pa未満の雰囲気下で350〜470°Cに加熱することを特徴とするシリカ系膜の形成方法。
IPC (4件):
C01B 33/12
, C09D183/00
, H01L 21/312
, H01L 21/316
FI (4件):
C01B 33/12 C
, C09D183/00
, H01L 21/312 C
, H01L 21/316 G
Fターム (54件):
4G072AA28
, 4G072BB09
, 4G072CC13
, 4G072FF01
, 4G072FF02
, 4G072FF04
, 4G072FF09
, 4G072GG03
, 4G072HH29
, 4G072HH30
, 4G072JJ11
, 4G072JJ13
, 4G072JJ47
, 4G072KK01
, 4G072KK07
, 4G072KK09
, 4G072KK17
, 4G072LL11
, 4G072LL13
, 4G072LL14
, 4G072LL15
, 4G072MM01
, 4G072NN21
, 4G072PP17
, 4G072RR05
, 4G072UU01
, 4G072UU30
, 4J038CG002
, 4J038DD002
, 4J038DE002
, 4J038DF002
, 4J038DL031
, 4J038HA236
, 4J038JA35
, 4J038JB01
, 4J038JC13
, 4J038JC38
, 4J038KA06
, 4J038NA07
, 4J038NA11
, 4J038NA17
, 4J038NA21
, 4J038PA19
, 4J038PB09
, 4J038PC02
, 4J038PC03
, 4J038PC04
, 5F058AA04
, 5F058AA10
, 5F058AC03
, 5F058AF04
, 5F058AG01
, 5F058AH01
, 5F058AH02
引用特許:
前のページに戻る