特許
J-GLOBAL ID:200903052800956604

物体の放射率及び温度の測定方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-329202
公開番号(公開出願番号):特開平9-166494
出願日: 1995年12月18日
公開日(公表日): 1997年06月24日
要約:
【要約】【課題】 被測定物体の反射率を高精度に測定し、被測定物体の表面温度を高精度に算出する物体の放射率及び温度の測定方法を得る。【解決手段】 被測定物体の表面1に光を照射する工程と、被測定物体の表面1からの反射光を受光し、その強度分布を求める工程と、反射光の強度分布に基づいて、完全拡散反射モデルを用いて指向性のない完全拡散反射成分を求め、また鏡面性拡散反射モデルを用いて指向性を持つ鏡面性拡散反射成分を求める工程と、完全拡散反射成分と鏡面性拡散反射成分との和から被測定物体の表面1の全反射光量を算出する工程と、全反射光量に基づいて反射率を求め、反射率と放射率との関係に基づいて被測定物体の放射率を算出し、放射率に基づいて被測定物体の表面1の温度を演算する工程とを有している。
請求項(抜粋):
被測定物体の表面に光を照射する工程と、前記被測定物体の表面からの反射光を受光し、その強度分布を求める工程と、前記反射光の強度分布に基づいて、完全拡散反射モデルを用いて指向性のない完全拡散反射成分を求め、また鏡面性拡散反射モデルを用いて指向性を持つ鏡面性拡散反射成分を求める工程と、前記完全拡散反射成分と前記鏡面性拡散反射成分との和から前記被測定物体の表面の全反射光量を算出する工程と、該全反射光量に基づいて反射率を求め、前記反射率と放射率との関係に基づいて前記被測定物体の放射率を算出し、該放射率に基づいて前記被測定物体の表面の温度を演算する工程とを有することを特徴とする物体の放射率及び温度測定方法。
IPC (2件):
G01J 5/00 ,  G01J 5/10
FI (2件):
G01J 5/00 B ,  G01J 5/10 B
引用特許:
審査官引用 (4件)
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