特許
J-GLOBAL ID：200903052882982608
レーザ測長機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
八木 秀人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-281549
公開番号（公開出願番号）：特開平9-126712
出願日： 1995年10月30日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：
【要約】【課題】 ダブルパス測長機のアライメント作業の改善と、測定精度の向上。【解決手段】 干渉計10は、ハウジング内にあって、上部に三角プリズム部12aと平行四辺形のプリズム部12bとを一体化した偏光ビームスプリッタ12と、偏光ビームスプリッタ12の前面及び底面にそれぞれ配置された1/4λ板16と、下部側1/4λ板16の下方に配置されたコーナプリズム18(反射プリズム)及びハウジングの上部前面に配置された小型コーナプリズム20(小型反射プリズム)とを備えている。小型コーナープリズム20は、コーナープリズム4からの反射光を受けて、この反射光と同一光路上に反射させる。
請求項（抜粋）：
レーザヘッドから出射されたレーザ光を、干渉計を介して一対の反射ターゲットに照射し、これらの反射ターゲットからの反射光を前記干渉計で相互に干渉させ、得られた干渉光に基づいて測距するレーザ測長機において、前記反射ターゲットの少なくとも一方をコーナープリズムで構成するとともに、前記干渉計の近傍に、前記コーナープリズムの反射光を受け、この反射光と同一光路上に入射光を反射させる小型コーナープリズムを設けたことを特徴とするレーザ測長機。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
審査官引用 (3件)
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サーボライタ用レーザ測長系
公報種別：公開公報
出願番号：特願平7-180864
出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
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特開平2-025703
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特開平3-004103
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