特許
J-GLOBAL ID:200903053127495710

蛍光測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-199113
公開番号(公開出願番号):特開2001-027605
出願日: 1999年07月13日
公開日(公表日): 2001年01月30日
要約:
【要約】【課題】 励起光による励起時間が可変とされるとともに、測定効率が向上された蛍光測定装置を提供する。【解決手段】 試料30を励起する励起光源として半導体紫外光源であるUV-LED31を用いてその発光時間に相当する試料30の励起時間を可変とするとともに、LED31の発光による励起時間、光検出器32による蛍光の検出時間、及び励起終了から検出開始までの時間である不測時間等の測定条件を、蛍光測定が効率的に実行可能なように測定条件設定部10において選択・設定し、設定された測定条件によって駆動制御部20を介して各部を駆動して測定を行う。以上の構成により、蛍光試料の種類やその蛍光時定数などの個々の測定における諸条件に応じて好適な測定条件を実現する蛍光測定装置とすることができる。
請求項(抜粋):
励起光によって励起された試料からの蛍光を測定する蛍光測定装置であって、半導体紫外光源を用いて構成され、所定の励起時間にわたって前記励起光を前記試料に照射する励起手段と、所定の検出時間にわたって前記試料から放出された前記蛍光を検出する検出手段と、前記励起時間及び前記検出時間を含む測定条件を選択し設定する測定条件設定手段と、前記測定条件設定手段によって設定された前記測定条件に基づいて、前記励起手段及び前記検出手段を駆動する駆動制御手段と、を有することを特徴とする蛍光測定装置。
Fターム (11件):
2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA06 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043KA03 ,  2G043LA02 ,  2G043MA01 ,  2G043MA11 ,  2G043NA06
引用特許:
審査官引用 (8件)
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