特許
J-GLOBAL ID：200903053134484863

大気圧イオン化質量分析計およびその方法

発明者：
中野 和男

中野 和男 について

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松岡 貞男

松岡 貞男 について

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但馬 武

但馬 武 について

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蓮見 啓二

蓮見 啓二 について


出願人/特許権者：
日立東京エレクトロニクス株式会社

日立東京エレクトロニクス株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-342362
公開番号（公開出願番号）：特開平11-176375
出願日： 1997年12月12日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：
【要約】【課題】接ガス部の有機材料を完全に排除し、微量有機物を高感度に分析する大気圧イオン化質量分析計を提供する。【解決手段】 イオン発生部5と混合部10と試料導入部と質量分析部24からなり、イオン発生部5で1次イオン発生用ガス1より生成した1次イオンと、ガス導入口18より絶縁配管A28および配管A27を介して導入した試料ガス2を混合部10で混合し、イオン-分子反応によって試料ガス2に含まれる分析目的物質をイオン化する。このイオンは細孔19を通り、質量分析部24に導入された質量分離されて検出される。
請求項（抜粋）：
質量分析部とイオン源を含む大気圧イオン化質量分析計において、前記質量分析部は、筐体内の真空に排気された領域に、細孔と質量分析手段を有し、前記イオン源は、開口を有し、且つ該イオン源内に絶縁体を介して取り付けられている電極部で二室に仕切られ、第1室は第1ガスの導入口と該第1ガスのイオンを生成させるイオン化手段を有し、第2室は分析対象物質を含む第2ガスの導入口を有し、前記分析計本体内の接ガス部を無機性材とし、前記第2室で前記開口から供給される前記第1ガスのイオンと前記導入口からの第2ガスを混合して2次イオン化を行わせ、前記電極部の電界で前記2次イオンを前記細孔から前記質量分析部に移動し、前記質量分析手段でイオンを検出することを特徴とする大気圧イオン化質量分析計。
IPC (4件)：
H01J 49/12 ,  G01N 27/62 ,  H01J 27/08 ,  H01J 49/04
FI (4件)：
H01J 49/12 ,  G01N 27/62 F ,  H01J 27/08 ,  H01J 49/04
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (4件)
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