特許
J-GLOBAL ID：200903053201199320

X線画像における欠陥を訂正するデバイス及び方法

発明者：
マーク ハンス-インゴ

マーク ハンス-インゴ について

, 
クロエッスナー アンドレアス

クロエッスナー アンドレアス について


出願人/特許権者：
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ

コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ について


代理人 (3件)： 津軽 進 ,  宮崎 昭彦 ,  笛田 秀仙
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-542073
公開番号（公開出願番号）：特表2007-512889
出願日： 2004年11月23日
公開日（公表日）： 2007年05月24日
要約：
本発明は、X線画像における欠陥を訂正する方法に関し、その方法においては、その画素の値(W(p))を、近接(n(p))において対応する値と比較することにより、欠陥の可能性がある画素(p)が正常動作中に作成されるX線画像(I)において特定される。もし画素(p)が、X線画像の特定の割合以上において「欠陥の可能性あり」と分類された場合、連続的にリフレッシュされる欠陥マップに入力される。その後欠陥マップは、別のX線画像を訂正するのに使用されることができる。
請求項（抜粋）：
欠陥マップを用いてX線画像における欠陥を訂正する方法において、 a) 現在の欠陥マップを用いて事前訂正されたX線画像における画素を、該画素の値が、前記画素に割り当てられる近接における前記画素値の区間と、特定の程度分異なる場合、「欠陥の可能性あり」と分類し、前記分類された前記画素を候補マップに記録するステップと、 (b) いくつかのX線画像において「欠陥の可能性あり」と分類され、かつ適切であれば他の基準も満たす、前記候補マップにおけるすべての前記画素を用いて前記欠陥マップをリフレッシュするステップと、 (c) 前記リフレッシュされた欠陥マップを用いて、X線画像を追加的に訂正するステップとを有する方法。
IPC (2件)：
A61B 6/00 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
A61B6/00 300S ,  G06T1/00 290A
Fターム (19件)：
4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC30 ,  4C093FD03 ,  4C093FD07 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CD06 ,  5B057CE02 ,  5B057CH09
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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