特許

J-GLOBAL ID：200903053298931704

画像計測システム及びその画像校正方法

発明者： 光谷 直樹 ,  配野 宏 ,  川崎 和彦
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
代理人 (1件)： 伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-002768
公開番号（公開出願番号）：特開2000-205822
出願日： 1999年01月08日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 各撮像系の物理的調整を不要とし、撮像系の座標ずれや歪みによる測定誤差の発生を効果的に防止する。【解決手段】 変換パラメータ算出部32は、各撮像装置21,22,23毎に、画像校正用の撮像対象を撮像して得られた校正用の画像データから歪み補正用の変換パラメータを算出する。変換パラメータ記憶部33は、算出された変換パラメータを記憶する。歪解消変換処理部34は、変換パラメータ記憶部33に記憶された変換パラメータに基づいて、計測用の画像データに対して歪解消用の補正処理を施す。表面形状解析処理部35は、歪解消された計測用の画像データに基づいて表面形状の解析処理を実行する。

請求項（抜粋）：

被計測対象を撮像する複数の撮像手段と、これら複数の撮像手段によって得られた複数の画像データから前記被計測対象を計測処理する画像計測処理手段とを有する画像計測システムにおいて、前記画像計測処理手段は、前記複数の撮像手段の空間的なずれに起因した各画像データの座標系のずれを補正するための画像校正手段を備え、前記画像校正手段は、座標値が既知の複数の着目点を含む校正用撮像対象を各撮像手段で撮像することによって得られた画像データ上での前記着目点の座標値と、前記既知の座標値とから、前記座標系のずれを補正するための変換パラメータを算出する変換パラメータ算出手段と、前記算出された変換パラメータを記憶する変換パラメータ記憶手段と、前記各撮像手段で得られた前記被計測対象の画像データを前記変換パラメータ記憶手段に記憶された変換パラメータによって補正する補正手段とを備えたものであることを特徴とする画像計測システム。

IPC (2件)：

G01B 11/00 ,  G01B 9/02

FI (3件)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/00 G ,  G01B 9/02

Fターム (37件)：

2F064AA09 ,  2F064CC10 ,  2F064DD10 ,  2F064EE05 ,  2F064FF01 ,  2F064GG12 ,  2F064GG22 ,  2F064GG33 ,  2F064GG38 ,  2F064GG39 ,  2F064HH03 ,  2F064HH06 ,  2F064HH08 ,  2F064HH09 ,  2F064JJ01 ,  2F065AA22 ,  2F065AA35 ,  2F065AA39 ,  2F065AA54 ,  2F065EE00 ,  2F065EE08 ,  2F065FF04 ,  2F065FF52 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065HH03 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL33 ,  2F065LL36 ,  2F065LL46 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ31

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開平2-287107
  
• 微小変位量の測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-083039   出願人：株式会社リコー

審査官引用 (3件)

• 特開平2-287107
  
• 特開平2-287107
  
• 微小変位量の測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-083039   出願人：株式会社リコー