特許
J-GLOBAL ID：200903053514657027
リード計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大菅 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-005446
公開番号（公開出願番号）：特開平7-208955
出願日： 1994年01月21日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：
【要約】【目的】部品のリード測定を正しく行うリード計測装置を提供する。【構成】レーザセンサ25、移載ヘッド21、レーザI/O制御部30、本体制御部10等により部品のリード測定を行う。測定エラーが発生すると、再測定回数が所定の回数を越えたことを判別するまで又は測定が正常であることを判別するまで、初期のリード走査線位置SPを、部品の外端部GTから距離L-n、L-2n、L-3nの位置へと所定の距離nずつ順次外側へ移動させ、また、距離「L-i・n」(i=1、2、・・・)が0ならば、距離L+n、L+2nというように初期の走査線位置SPから距離nずつ順次内側へ移動させて再測定を行う。これによりリード測定位置の疵、錆び等による測定ミスが回避され良品部品を不良と誤認して廃棄する無駄の発生を防止する。
請求項（抜粋）：
レーザセンサを用いて移載ヘッドの吸着ノズルに吸着された電子部品のリード状態を計測するリード計測装置において、前記電子部品の所定のリード走査位置を走査して計測する計測手段と、該計測手段による計測が不良であるときの不良内容を判定する判定手段と、該判定手段による判定に基づいて前記計測手段の前記リード走査位置を所定の距離だけずらして新たに設定する設定手段と、前記計測手段による計測を前記設定手段により新たに設定されたリード走査位置で行なわせる計測制御手段と、を有することを特徴とするリード計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G05B 19/05
, H05K 13/04
