特許
J-GLOBAL ID：200903053723406376
回路パターンの縁辺判別方法および縁辺判別装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-119768
公開番号（公開出願番号）：特開2000-311245
出願日： 1999年04月27日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
要約：
【要約】【課題】回路パターンと基板基体の背景面間の明暗のコントラストが一定にならない場合、画像データにおける回路パターンの縁辺に相当する部分の輝度レベルがステップ状またはパルス状の変化として得られない場合または画像データにノイズが存在する場合であっても、回路パターンの縁辺を正確に判別することのできる方法およびその判別装置を提供する。【解決手段】回路基板1を撮像して得られた画像データのエッジ検出フィルタ処理を行って回路パターン1bの縁辺の候補点を抽出する。その候補点の注目画素に対する両側領域にそれぞれ設定した少なくとも二つのウィンドにおける各画像データの濃度レベル平均値の差(M2-M1)または濃度レベル分散値の差(V1-V2)を算出する。求めた差を所定の閾値TM ,TV と比較して、その閾値TM ,TV を越えた箇所を縁辺であると判別する。
請求項（抜粋）：
回路基板の回路パターンにおける各種電子部品を実装するための部品装着部の位置を画像認識するに際して、前記回路基板の画像データに基づいて前記回路パターンの縁辺を判別する方法において、画像データのエッジ検出フィルタ処理を行って縁辺の候補点を抽出する処理工程と、前記候補点の注目画素に対する両側領域にそれぞれ設定した少なくとも二つのウィンドにおける各画像データの濃度レベルの平均値を算出する処理工程と、前記算出した各濃度レベル平均値の差を求める処理工程と、前記求めた差を所定の閾値と比較して、その閾値を越えた箇所を縁辺であると判別する処理工程とを有することを特徴とする回路パターンの縁辺判別方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 405 B
, G01N 21/88 J
2G051AA65
, 2G051AB20
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051EA08
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA23
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC03
, 2G051ED07
, 5B057AA03
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CB12
, 5B057CE06
, 5B057DA08
, 5B057DC16
, 5B057DC22
審査官引用 (1件)
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検査範囲認識方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-052208
出願人：積水化学工業株式会社
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